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最先端のナノ・マイクロ微小領域の可視化と解析をサポートする
電子顕微鏡用周辺機器
電子顕微鏡用周辺機器
西華デジタルイメージでは、ナノ領域、マイクロ領域での顕微観察領域のツールとして、長年にわたりTEM用カメラ、粒子解析ソフトウエアを製造してきたEMSIS社の商品や、SEM/FIB内に取り付け可能な押込み、圧縮、曲げ、引掻き、引張試験を実現するナノインデンター/メカニカルテスターを取り扱っております。
DENSsolutions社製TEM用 In-Situ ホルダーシリーズ
オランダのDENSsolutions社製、TEM用In-Situホルダーシリーズは、試料を電子顕微鏡内に保持したまま、加熱、冷却、電圧印加、ガス・液体フローなどの外部刺激を精密に与え、その場で起こる構造・組成・特性の変化をリアルタイムで捉える観察システムです。 ...詳しく
電子顕微鏡用デジタルカメラ
広視野観察に適したサイドマウントタイプ（2.8M～16Mピクセル）と、高倍率・高分解能観察に適したボトムマウントタイプ（5M～20Mピクセル）をご用意。高感度・高分解能・高速撮影を特長とし、回折像・動画・パノラマ撮影・リアルタイムFFTなど多彩な機能を搭載。バイオメディカルから材料研究まで幅広い用途に対応します。 ...詳しく
粒子解析ソフトウェア
EMSIS社の電子顕微鏡用解析ソフトウェアは、各メーカーのデータフォーマットに対応。システム制御から画像の取得・処理・解析・変換やデータ管理まで一元的に行えます。個数、長さ、面積、角度、ポリゴン、形状、濃度、座標など、多彩なデータ抽出機能を有しており、Microsoft Office出力に対応など、ユーザビリティの高い操作性。日本語他、多言語に対応。自動粒子解析、ステレオ３D、ディフラクション解析、トモグラフィなど、解析をアップグレードする多彩なオプションを装備しています。 ...詳しく
ナノインデンター(ナノインデンテーション法)
SEM/TEMなどの電子顕微鏡内で、マイクロ・ナノスケールの機械的特性をその場観察（in-situ）できるナノインデンター・メカニカルテスター。押し込み・圧縮・引張り・曲げ・引っかきなどの各種試験に対応し、荷重－変位曲線から材料の硬度などを評価します。電気試験や加温試験にも対応し、試験中の微細構造の変化を観察できます。光学顕微鏡付きの単体稼働モデルから、SEMや光学顕微鏡、シンクロトンビームへの組み込み型まで幅広くラインアップ。最小荷重1nN、最小変位検知10pmの高精度計測に対応し、金属・半導体・ガラスなど多様な材料の研究開発に活用できます。さらに、デジタル画像相関法（DIC）によるひずみ・変位分布の解析ソリューションもご用意しています。 ...詳しく
