計測機器資料ダウンロード

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カテゴリ カタログ
総合 受託計測
粒子計測機器 粒子・噴霧計測システム
 画像解析・計測ソフトウエア Dia.Image2020
FLD レーザー回折式粒度分布計
PDI 位相ドップラー式粒子分析計
材料特性評価機器 DIC 非接触歪み/変位解析システム
レーザードップラー式振動計
 電気化学測定装置(ポテンショスタット・ガルバノスタット)
ブリネル圧痕自動読取装置 BRINtronic-MD
電子顕微鏡用周辺機器 SEM用ナノインデンター
TEM用ハイスピードカメラ M-View G3
TEM用ボトムカメラ Quemesa
TEM用画像解析・カメラ制御ソフトウエア RADIUS
TEM用ボトムカメラ Tengra
サイドマウントTEM用カメラ VeletaG3
燃焼流体計測機器 PIV 粒子画像流速計測システム
PIV エントリーモデルシステム
PIV 制御・解析ソフトウェア KoncertoⅡ
マイクロPIV / LIFシステム (微小流動の流速分布、混合、拡散解析)
大粒径シーディング発生装置 CTS-1000
シーディングジェネレータ PivSolid 3 / PivSolid 10
シーディングジェネレータ PivPart14 / PivPart40
タイミングコントローラー LC880
LDV 1D/2D/3Dレーザードップラー流速計
LIF レーザー誘起蛍光法によるガス分子種計測システム
レーザー式カンチレバー流速計 2D-LCA
PSP 感圧塗料を用いた圧力計測システム
可搬投影型シュリーレン装置
LII レーザー励起加熱法によるすす計測システム
ハイスピードカメラ対応 LED光源 Nila ZAILA VARSA BOXER ARINA
薄膜、多孔質材料評価装置 薄膜、多孔質材料評価装置