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カテゴリ | カタログ |
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総合 | 受託計測 |
飛沫の可視化 | 飛沫・呼気・室内空気流れ 可視化 |
粒子計測機器 | 粒子・噴霧計測システム |
粒子画像解析・計測ソフトウエア:Dia.Image2020 | |
シャドウグラフ(画像粒子計測法) | |
FLD レーザー回折式粒度分布計 | |
PDI 位相ドップラー式粒子分析計 | |
材料特性評価機器 | DIC 非接触歪み/変位解析システム |
超高精度ナノインデンター FT-ⅼ04 | |
レーザードップラー式振動計 | |
電気化学測定装置(ポテンショスタット・ガルバノスタット) | |
ブリネル圧痕自動読取装置 BRINtronic-MD | |
ポータブル型充放電試験装置 GPTシリーズ | |
電子顕微鏡用周辺機器 | SEM用ナノインデンター |
TEM用カメラ・ソフト総合 EMSIS | |
TEM用ボトムカメラ Xarosa | |
TEM用ボトムカメラ TOLARA | |
TEM用サイドマウントカメラ M-View G3 | |
TEM用サイドマウントカメラ VeletaG3 | |
TEM用サイドマウントカメラ PHURONA | |
TEM用画像解析・カメラ制御ソフトウエア RADIUS | |
燃焼流体計測機器 | PIV 粒子画像流速計測システム |
PIV エントリーモデルシステム | |
PIV 制御・解析ソフトウェア KoncertoⅡ | |
マイクロPIV / LIFシステム (微小流動の流速分布、混合、拡散解析) | |
大粒径シーディング発生装置 CTS-1000S/CTS-4000Q | |
シーディングジェネレータ PivSolid 3 / PivSolid 10 | |
シーディングジェネレータ PivPart14 / PivPart40 | |
タイミングコントローラー LC880 | |
LDV 1D/2D/3Dレーザードップラー流速計 | |
LIF レーザー誘起蛍光法によるガス分子種計測システム | |
レーザー式カンチレバー流速計 2D-LCA | |
PSP 感圧塗料を用いた圧力計測システム | |
デジタルシュリーレンシステム(DSS) | |
LII レーザー励起加熱法によるすす計測システム | |
薄膜感圧センサーシステム | |
薄膜、多孔質材料評価装置 | 薄膜、多孔質材料評価装置 |
貫通細孔径測定装置 POROLUX Revo、POROLIQ AQ/ML |