計測機器資料ダウンロード

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カテゴリ カタログ
総合 受託計測
飛沫の可視化 飛沫・呼気・室内空気流れ 可視化
粒子計測機器 粒子・噴霧計測システム
粒子画像解析・計測ソフトウエア:Dia.Image2020
シャドウグラフ(画像粒子計測法)
FLD レーザー回折式粒度分布計
PDI 位相ドップラー式粒子分析計
材料特性評価機器 DIC 非接触歪み/変位解析システム
超高精度ナノインデンター FT-ⅼ04
レーザードップラー式振動計
電気化学測定装置(ポテンショスタット・ガルバノスタット)
ブリネル圧痕自動読取装置 BRINtronic-MD
  ポータブル型充放電試験装置 GPTシリーズ
電子顕微鏡用周辺機器 SEM用ナノインデンター
TEM用カメラ・ソフト総合 EMSIS
TEM用ボトムカメラ Xarosa
TEM用ボトムカメラ TOLARA
TEM用サイドマウントカメラ M-View G3
TEM用サイドマウントカメラ VeletaG3
TEM用サイドマウントカメラ PHURONA
TEM用画像解析・カメラ制御ソフトウエア RADIUS
燃焼流体計測機器 PIV 粒子画像流速計測システム
PIV エントリーモデルシステム
PIV 制御・解析ソフトウェア KoncertoⅡ
マイクロPIV / LIFシステム (微小流動の流速分布、混合、拡散解析)
大粒径シーディング発生装置 CTS-1000S/CTS-4000Q
シーディングジェネレータ PivSolid 3 / PivSolid 10
シーディングジェネレータ PivPart14 / PivPart40
タイミングコントローラー LC880
LDV 1D/2D/3Dレーザードップラー流速計
LIF レーザー誘起蛍光法によるガス分子種計測システム
レーザー式カンチレバー流速計 2D-LCA
PSP 感圧塗料を用いた圧力計測システム
  デジタルシュリーレンシステム(DSS)
LII レーザー励起加熱法によるすす計測システム
 薄膜感圧センサーシステム
薄膜、多孔質材料評価装置 薄膜、多孔質材料評価装置
 貫通細孔径測定装置 POROLUX Revo、POROLIQ AQ/ML