電子顕微鏡用周辺機器

Scandium (画像解析ソフトウェア)

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  • 電子顕微鏡,EV・バッテリー,材料・物性,ナノインデンテーション,TEM用カメラ,粒子径・排ガス
メーカー名:EMSIS
電子顕微鏡用周辺機器汎用SEMイメージングプラットフォーム

Scandium (画像解析ソフトウェア)

デジタル化は、顕微鏡分野全域に拡がっており、ソフトウェア重要性は高まりつつあります。革新的な様々な機能は顕微鏡や研究機関の世界で働く人々の作業環境を激変させています。画像処理ソフトウェアと組み合わせることにより、以前は不可能と思われていたことも現実になりつつあります。画像やデータはデジタル的に取り込まれ、転送され、保存、解析され最大限の効果を発揮しています。顕微鏡は、包括的なワークフロー構造のもと完全に自動化されリモート制御されるようになりました。
『Scandium』は、このような現在のSEMイメージングのタスクに理想的なプラットフォームです。

製品特徴

  • 電子顕微鏡&カメラコントロール
    顕微鏡の種類に応じて広範囲に渡る顕微鏡機能をソフトウェア制御出来ます。また顕微鏡情報(XMI形式)も保存可能です。, ユーザーフレンドリーワークフロー
    直感的なユーザーインターフェイスが作業効率をUPさせます。, 自動画像転送
    イメージバッファ、データベース、レポートへの自動画像取込が可能です。, SEM画像&EDSスペクトルデータのインポート
    画像データと共に顕微鏡情報の取り込みやグラフ機能による各社スペクトルデータの取込、表示が可能です。, インタラクティブ計測機能
    ライブ画像への計測が行えます。, データベース構築
    画像ファイル、シート、ダイアグラム、レポートその他ユーザーのファイルの管理が可能です。, レポート機能
    インテリジェントなレポートジェネレータ機能により簡単操作でレポート作成が行えます。, マクロレコーディング
    簡単なマクロ作成機能を搭載しています。
製品特徴

iTEM追加オプション:Detection(自動粒子解析)
粒界を分離し閾値を元に粒子を解析するための包括的かつ高性能の拡張ソフトウェア
・モフォロジカルフィルタリング
・粒子分離ツール(セパレータフィルタ)
・複数フェーズ粒子解析
・豊富な解析パラメータリストは解説付き
・クラス分類
・ROI

製品特徴

iTEM追加オプション:Height
ステレオ表示、サーフェイスレンダリング機能や荒さ計測を備えた表面計測ツール
・2枚のチルトペア画像からのステレオ表示、3D再構築
・高さ計測
・EFI(拡張焦点機能):異なるフォーカス画像からの全焦点画像作成及びサーフェイスレンダリング
・粗さ計測
・3D情報の可視化

製品特徴

iTEM追加オプション:Automation
顕微鏡の電動ステージの自動ポジショニングをサポート
・ウェハーやリソグラフマスク上のDieを直接アドレス化
・電動ステージの自動制御
・自動更新プロセスの完全オートメーション
・ウェハーのポジショニング

製品特徴

iTEM追加オプション:Metrology
顕微鏡の電動ステージの自動ポジショニングをサポート
・ウェハーやリソグラフマスク上のDieを直接アドレス化
・電動ステージの自動制御
・自動更新プロセスの完全オートメーション
・ウェハーのポジショニング

製品仕様

画像転送
直接アップロード(イメージバッファ、データベース、レポートテンプレート)
画像フォーマット
*.tif、*.jpg、*.bmp、*.pcd、*.eps、*.png、etc
画像タイプ
バイナリー8bitグレー、8bitカラーパレット、16bitグレー、 トゥルーカラー(24bit RGB)
動画作成・AVIレコーダ
複数シリーズ画像或いはライブ画像からの直接ムービー作成
MIA:Multiple Image Alignment
パノラマ画像機能
画像情報
画像取込中の顕微鏡設定に関する追加情報取込
STAR
画像データベース構築

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