計測機器
measurement
その他のラインナップ
インフォメーション
建築業界向け
General contractor
03-3405-1280
(受付時間:平日 9:00-18:00)
電子顕微鏡用周辺機器
SEM/FIBに取り付け、マイクロ~ナノスケール領域で、圧縮、押込み、曲げ、引張り、引掻きなど、様々な機械特性試験とデータ取得をリアルタイムで行えます。複数軸サンプルステージや各種プローブ、加熱計測、電気特性試験等にて、非常に高精度で多彩なナノ領域でのメカニカル試験が真の変位制御にて可能です。
マイクロナノスケールでの幅広い用途で使える3軸インデンター
ダイナミック、加熱試験が可能な3軸SEM用ナノインデンター
試験の自由度が高い複数軸SEMインデンター※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。