西華デジタルイメージ > 2019年展示会情報 > 日本顕微鏡学会 第75回学術講演会

日本顕微鏡学会 第75回学術講演会

日本顕微鏡学会 第75回学術講演会|2019.6.17(月)~6.19(水)

会期 2019年6月17日(月)〜6月19日(水)  9:00〜17:30
※ 最終日、19日(水)のみ16:00まで
テーマ 顕微鏡学のパラダイムシフト -構造解析から機能解析へ-
会場 名古屋国際会議場 名古屋市熱田区熱田西町1番1号
問い合わせ 西華デジタルイメージ株式会社
〒107-0052 東京都港区赤坂 4-9-6 タク赤坂ビル
TEL:03-3405-1280 FAX.03-3405-1282
公式サイト 日本顕微鏡学会 第75回学術講演会

企業展示のお知らせ






 平素はご愛顧頂きまして誠にありがとうございます。電子顕微鏡用周辺機器営業担当の森と申します。
さて、この度弊社は、来る2019年6月17日(月)~19日(水)に名古屋国際会議場にて開催される
「日本顕微鏡学会 第75回学術講演会」に出展致します。

弊社ブース(No.46)では、ドイツ国EMSIS社製サイド&ボトムマウントTEMカメラ、スイス国FemtoTools社製ナノインデンター、西華デジタルイメージ社製DICソフトウェアを展示し、バイオメディカル、マテリアル研究に従事する皆様へ耳よりな情報をご紹介致します。
ご多忙とは存じますが、ご来場の際には是非弊社ブース(ブース番号46)にお立ちより下さいます様、ご案内申し上げます。


EMSIS社は、長年にわたって顕微鏡用カメラ、ソフトウェアを製造しており、
同社のTEM用デジタルカメラは、高感度、高分解能、広視野、高速度が特徴です。
全機種ディフラクション・動画・パノラマ撮影、リアルタイムFFTをはじめとした、
各種オンライン機能に対応し、バイオメディカルからマテリアルまで、わかりやすい操作で高品質の像が取得可能です。



詳しくはこちらをご参照下さい。


FemtoTools社製ナノインデンターは、SEMで観察しながらの、
オンタイム 圧縮、インデント(押込み)、引掻き、引張り、曲げ、加振試験が実施出来ます。
ピエゾスキャナーの正確なクローズドループポジショニングにて、変位・荷重が高精度制御で実施可能です。
使いやすい機器制御、データ取得ソフトウェア、加熱(~400℃)、電圧印加しながらの機械特性評価も対応しております。




詳しくはこちらをご参照下さい。


sDICは弊社独自に開発した製品で、DIC(デジタル画像相関法)による、ひずみ解析のソリューションを提供するソフトウェアです。
変形前後の画像を解析する事により、どの程度変形したかを解析します。
変形量だけでなく、変形した方向も検出可能です。
本ソフトウェアを使用することにより、非接触、非破壊で物体の歪みや変形を定量化する事が可能となります。





詳しくはこちらをご参照下さい。



皆様のご来場をお待ちしております。
マテリアルサイエンス計測チーム 一同

製品ページ・関連ソリューション