西華デジタルイメージ > 2018年展示会情報 > 第14回微粒化セミナー > 第14回微粒化セミナー【レポート】

第14回微粒化セミナー

 

第14回微粒化セミナー ご来場のお礼

平素よりご愛顧いただき誠に有難うございます。
去る2018年11/1(木)に、東京都立産業技術研究センター 東京イノベーションハブにて、第14回微粒化セミナーが開催されました。

本セミナーは、技術者や研究者を対象に微粒化の基礎〜計測手法〜測定データの評価法まで一連の流れを学び、
実際にそれらの機器展示とデモンストレーションを通じて理解を深める目的で毎年行われております。

その中で弊社は今年も位相ドップラー粒子分析計(PDI)を展示・デモを実施いたしました。
当日披露したのは、ターンキー式PDIである"一体型PDIシステム TK2"です。

PDIとは、粒径と粒速を同時に計測可能なシステムで、粒径の違いがレーザーの透過・反射による位相差として現れる事を利用した計測手法です。
なかでもTK2は、発光系・受光系が一体型となっており、光軸調整が一切不要な装置の為、デモにてお客様よりご好評をいただきました。

■TK2について、詳しくはこちらをご参照ください
https://www.seika-di.com/measure/pdi/item_43

■粒径計測について、詳しくはこちら をご参照ください
https://www.seika-di.com/measurement/combustion/particle.html

■PDIの原理について、詳しくはこちら をご参照ください
https://www.seika-di.com/media/2018/11/12/101



上記PDIの他シャドウグラフ法など、粒径計測をご提供しており、弊社ラボにてデモも行っております。

ご質問等ございましたら、こちらよりお気軽にお問い合わせ下さい。
https://www.seika-di.com/contact.html


西華デジタルイメージ スタッフ一同


製品ページ・関連ソリューション