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日本顕微鏡学会 第74回学術講演会

日本顕微鏡学会 第74回学術講演会|2018.5.29(火)~5.31(木)

会期 5月29日(火) 9:00〜17:00
5月30日(水) 9:00〜18:00
5月31日(木) 9:00〜14:00
テーマ 顕微解析 イメージングのシンギュラリティ
会場 久留米シティプラザ
問い合わせ 西華デジタルイメージ株式会社
〒107-0052 東京都港区赤坂 4-9-6 タク赤坂ビル
TEL:03-3405-1280 FAX.03-3405-1282
公式サイト 日本顕微鏡学会 第74回学術講演会

企業展示のお知らせ






平素はご愛顧頂きまして誠にありがとうございます。マテリアルサイエンス計測チーム営業担当の森と申します。
さて、この度弊社は、来る2018年5月29日(火)~31日(木)に久留米シティプラザにて開催される「日本顕微鏡学会 第74回学術講演会」に出展致します。

弊社ブース(No.46)では、ドイツ国EMSIS社製サイド&ボトムマウントTEMカメラ、スイス国Alemnis社製ナノインデンター並びにスイス国FemtoTools社製ナノインデンター、西華デジタルイメージ社製DICソフトウェアを展示し、バイオメディカル、マテリアル研究に従事する皆様へ耳よりな情報をご紹介致します。
ご多忙とは存じますが、ご来場の際には是非弊社ブースにお立ちより下さいます様、ご案内申し上げます。

EMSIS社は、長年にわたって顕微鏡用カメラ、ソフトウェアを製造しており、同社のTEM用デジタルカメラは、高感度、高分解能、広視野、高速度が特徴です。



全機種ディフラクション・動画・パノラマ撮影、リアルタイムFFTをはじめとした、各種オンライン機能に対応し、
バイオ・メディカルからマテリアルまで、わかりやすい操作で高品質の像が取得可能です。

詳しくはこちらをご参照下さい。
 

ナノインデンターはAlemnis社並びにFemtoTools社を取り扱っており、SEMで観察しながらの、オンタイム 圧縮、インデント(押込み)、引掻き、引張り、曲げ、加振試験が実施出来、変位、荷重での高精度制御がピエゾステージの正確なクローズドループポジショニングにて実施可能です。



使いやすい機器制御、データ取得ソフトウェア、加熱(~600℃)、電圧印加しながらの応力負荷も対応しております。

詳しくはこちらをご参照下さい。

sDICは弊社独自に開発した製品で、DIC(デジタル画像相関法)による、歪み解析のソリューションを提供するソフトウェアです。
変形前後の画像を解析する事により、どの程度変形したかを解析します。
変形量だけでなく、変形した方向も検出可能です、本ソフトウェアを使用しる事により、非接触、非破壊で物体の歪みや変形を定量化する事が可能となります。



詳しくはこちらをご参照下さい。



尚、当日はご来場記念として粗品を用意しております。皆様のご来場をお待ちしております。
マテリアルサイエンス計測チーム 一同

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