排ガス計測

LIIとは

LII レーザー誘起加熱法

LII レーザー誘起加熱法

in-situ 非接触のレーザ励起加熱法によるすす計測システムです。
1064nmのNd:YAGレーザを低出力でコントールし、すすの励起加熱光を2波長(400nmと780nm)分光計測、その強度の減衰時間を計測することによりナノサイズクラスのすす計測が可能となります。

特徴

  • すすの質量及び体積濃度,表面積,粒子数,Primary 粒子径平均値
  • 時系列計測可能(20Hz)
  • in-situ 及び非接触計測

用途

用途

LII レーザー誘起加熱法

  • ディーゼルエンジンから排出された微粒子群の計測
  • GDIから排出される微粒子群の計測
  • その他、燃焼場におけるすす計測

原理

LII 装置レイアウト図・原理

LII 装置レイアウト図・原理

Nd:YAGレーザから発振される波長 1064nmの光は数 mJにチューニングされ、計測ボリュームは、均一な強度と効果的な形状にフォーミングされます。
その計測ボリュームを通過する排ガス中のすすは励起加熱 (Induced Incandescence)されます。

LII 装置レイアウト図・原理

そして、集光レンズにより400nmと780nmに分光されます(Fig.1)。この励起加熱光の減衰強度と時間の比から温度が求まり(Fig.2)、グラフ勾配からPrimary 粒子径平均値が得られます。Primary粒子径平均値から励起加熱光I(P)を導入し、励起光全体I/I(P)から個数nを算出します。Flow rateが既知であれば、体積濃度・Flux等が求まります。

システム一覧

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