Alemnis Standard Assembly (ASA)

Alemnis Standard Assembly (ASA):標準システム

Alemnis Standard Assembly (ASA)

Alemnisは、高精度なナノインデンターシステム(ASA)と、それを補完するさまざまなアクセサリー、消耗品、コントローラ等によって、多くのナノメカニカル試験手法の新たな境地を開拓します。

Alemnis Standard Assembly (ASA) は、ご要望の特別なニーズにも合わせてカスタマイズできるように設計されたモジュール式インデンテーションプラットフォームです。独自のモジュール設計によって、世界で最も用途が広く、高性能で費用対効果の高い機器となり、世界で最も権威のある大学や研究センターで使用されています。


Alemnis のナノインデンテーション製品は、EPFL (スイス連邦工科大学、ローザンヌ) と Empa (スイス連邦材料科学技術研究所、トゥーン) との共同プロジェクトで行われた、理化学機器とピエゾトランスデューサーのデザインでの、長年の経験に基づいて製造されています。 装置の発明者による発表は、American Vacuum Society(アメリカ真空学会)の 2004 年Bunshah Award(バンシャー賞)を受賞しました。 これは、科学界における重要なマイルストーンと見なされています。


比類のない汎用性

独自のモジュール設計により、ASA(標準システム)はさまざまな構成で使用できます。

ナノインデンテーション 特徴
  • In-situ
    標準システムを、専用フランジとアダプターを使用して、SEM内に取り付けます。
  • Ex-situ(スタンドアローン機として)
    標準システムをスタンドアロンのマイクロメカニカル試験システムとして使用できます。このex-situ操作の場合、ASAを専用のエンクロージャに配置し、エンクロージャを防振台の上に置いてノイズを最小限に抑えることをお勧めします。ASAは光学顕微鏡を取り付けることもでき、大気環境での実験を、側面から観察できます。
  • トモグラフィー
    In-situ機械試験システムをCT用の X 線ビームラインに設置するには、いくつか条件がありますが、ASAでは可能です。
  • シンクロトロン/X線
    In-situ機械試験システムをシンクロトロンビームラインに設置して、in-situ 機械試験を行うには、いくつか課題がありますが、ASAはそれを満たしています。多くの場合、複数のモーションステージの上に取り付ける必要があるため、システムは軽量でなければなりません。また、フレームの重量は、回転軸に対してできるだけ対称的に分散している必要があります。さらに、システムは、X 線ビームが通過できるように十分にスペースが開いていなければなりません。

真の変位制御

ASA の「真の変位制御」のユニークなパフォーマンスは、さまざまな現象を理解するための鍵です。

ナノインデンテーション 用途
  • 荷重ドロップ
  • コンプレッションアーティファクト
  • ひずみ速度のジャンプ
  • リアルタイムでの突然の荷重変動

最も広い荷重レンジ

ナノインデンテーション 用途

マーケットで最も広い荷重レンジ: µN から 4 N まで
標準:最大0.5N、オプション:最大4N

環境制御オプション

オプションを追加することで、ASAは様々な環境で材料試験が可能です。

ナノインデンテーション 用途
  • 高温(最大1000°C)
  • 低温(最低-150°C)
  • 相対湿度制御
  • 液体セル
  • バイオインデンター

分野

ASA は類を見ない汎用性を持ち、多くの分野の研究者に愛用されている装置です。

ナノインデンテーション 用途
  • マテリアルサイエンス
  • バイオサイエンス
  • 積層造形(アディくティブマニュファクチャリング)
  • MEMS
  • 電気試験
  • コーティング

使いやすさとサポート

ASA はモジュール式で、堅牢、インストールが容易です。直感的なソフトウェアで簡単に使用できます。
Alemnisのチームは、表面の機械的特性試験分野で長年の経験を持ち、クライアントとの密接な協力で有名であり、
独自の開発や、新しいレベルへの限界の突破に数多く寄与してきました。
迅速な応答時間と柔軟なアプローチにより、Alemnis は試験の目標を達成し、それを超えるための最良の選択肢となります。


  • ユーザーの声
  • ソフトウェア
  • コントローラー

アプリケーション

試験手法

  • マイクロピラー圧縮
  • インデンテーション
  • 片持ち梁の曲げ試験
  • 引張試験
  • 機械特性マッピング
  • 破壊靭性
  • 疲労試験
  • 衝撃試験
  • クリープ試験
  • ストレス緩和
  • トライボロジー
  • スクラッチ試験

複合解析

  • デジタル画像相関法(DIC)
  • 電子後方散乱回折 (EBSD)
  • シンクロトロン/X線
  • トモグラフィー
  • ラマン分光法
  • 電気試験

製品仕様

ナノインデンテーション 用途

主な構成部品

  • 変位ヘッド: クローズドループ制御の変位センサーを内蔵したピエゾ駆動変位ヘッド。 最大変位 40 µm、変位分解能 < 1 nm。
  • ・ロードセンサー: 最大荷重: 0.5 N、RMSノイズ:典型値 4 µN。
  • ポジショニングステージ: -ピエゾ XY+Z マイクロポジショニングシステム:駆動範囲XY軸26 mm角、Z軸 26 mm)  サンプル-圧子の位置決めと、圧子先端のアプローチ用、-ポジショニングセンサー:分解能< 2 nm。クローズドループ制御
  • 5つの標準スタブ
  • ケーブル、コネクタ:SEM内用、SEM外用

     

    ※SEM にインテグレーションするには、フランジ、ケーブル、マウント、コネクタなどの追加の変更が必要になる場合があります。詳しくはお問い合わせください。

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Alemnis社(外部サイト)