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『真の変位制御』を実現したナノインデンター

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マイクロナノスケールでの幅広い用途で使える3軸インデンター

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ダイナミック、加熱試験が可能な3軸SEM用ナノインデンター

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試験の自由度が高い複数軸SEMインデンター
※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。

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MEMSデバイス（E-Chips）を用いたTEM用In-Situホルダーのパイオニア

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バブルポイント、貫通細孔径分布測定の高性能装置

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オングストローム～ナノ細孔の評価が可能な特殊評価機。

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FC材料の真の拡散性を評価

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バブルポイント、貫通細孔径分布測定の業界標準機　※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。

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極低圧での細孔径分布測定が可能な最新機種　※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。