材料特性評価機器

sDIC 非接触歪み変位計測

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  • 歪み・変位,自動車,建築,マテリアル,繊維・製紙,製薬・化学,航空・宇宙,電力・エネルギー,振動,可視化,EV・バッテリー,材料・物性,構造計算の検証
メーカー名:Seika Digital Image
材料特性評価機器物体のひずみ、方向を、非接触で解析

sDIC 非接触歪み変位計測

DIC(デジタル画像相関法)による、ひずみ解析システムです。
サンプルの変形前後の画像を撮影し、解析する事により、どの程度変形したかを解析します。変形量だけでなく、変形した方向も検出可能です。本システムを使用する事により、非接触、非破壊で物体の歪みや変形を定量化する事が可能です。
カメラ、照明等の周辺機器も含め、総合的にご提案いたします。

システム構成例

システム構成例

撮影装置設置例:3D解析の場合
カメラを2台用いることで、奥行き方向の情報も含んだ3次元解析が可能です。

製品特徴

  • 座標、変位、速度、ひずみ、形状、変形を測定可能, ベクトル図、コンター図表示, 対応画像フォーマット:TIFF画像 他, 使いやすく、直感的なインターフェース, オフライン解析、オンライン解析(オプション), 3D解析(オプション)対応, プロセスツリー構造, 豊富なポスト処理機能(FFT解析、POD解析等), 各種高速度カメラ、高解像度カメラに対応, 日本語、英語 対応, オフライン解析、オンライン解析(オプション)
製品特徴

アプリケーション例:横軸引張り試験
※ページ下部に動画リンクがあります

製品特徴

アプリケーション例:ドア開閉時の車体の挙動
※ページ下部に動画リンクがあります

製品特徴

アプリケーション例:風洞内の金属板の揺れ
※ページ下部に動画リンクがあります

製品仕様

<ソフトウェア>
※対応カメラについてはお問合せください。
 各種カメラに対応しています。
カメラ制御 ※
・カメラ制御
・カメラパラメータ調節

可能
可能
信号
・同期信号入力
・アナログ信号入力

可能(TTL5V)
可能
画像読み込み 対応フォーマット
.tif、.bmp、.jpg、.png他
画像補正
・各種フィルター
・マスク / ROI

ガウシャン、ハイパス/ローパス他
可能
計測
・次元数
・計測分解能
・ひずみ範囲

2D、3D
1/100ピクセル以下
~数百%以上
表示項目
形状、変位、ひずみ、速度
後処理
周波数(振動)解析、POD処理
<ハードウェア>
※対応カメラについてはお問合せください。
 各種カメラに対応しています。
対応カメラ ※
・カメラ
・画素数
・データレート

各種理化学用カメラ、マシンビジョン用カメラ、高速度カメラ
0.1Mピクセル~30Mピクセル
最大10,000,000Hz
照明
各種ハロゲンランプ、LEDライト、レーザー
PC 対応OS
Windows OS
<システム構成一例>
カメラ
・画素数
・ビット深度
・サンプリングレート

2,448×2,048 (5M) ピクセル
8/10/12
23Hz
照明
LEDライト

製品動画

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