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03-3830-2300
(受付時間:平日 9:00-18:00)
90件中/61-70件目を表示
広視野(Wide)・高画質(Clear)を実現した共焦点スキャナ
高性能統合ソフトウエア
超高感度UV光可視化ユニット
イメージインテンシファイア内蔵高感度カメラ
MEMSデバイス(E-Chips)を用いたTEM用In-Situホルダーのパイオニア
バブルポイント、貫通細孔径分布測定の高性能装置
オングストローム~ナノ細孔の評価が可能な特殊評価機。
FC材料の真の拡散性を評価
バブルポイント、貫通細孔径分布測定の業界標準機 ※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。