ステレオ3D-PIVシステムの特長

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3成分速度の測定が可能

ステレオ3次元PIVではライトシート面内の速度3成分の計測が可能です。
(このような2次元面内の3成分速度ベクトルマップを2D3Cフォーマットといいます。)
流れは3次元的な動きなので3成分を測定すれば絶対値を知ることができます。
3成分速度の測定が可能

 

フレキシブルなカメラ配置

ステレオPIVでは2台のカメラを自由に配置することができます。
レーザーライトシートに対して片側にカメラを2台設置する基本的配置以外に、レーザーシートの両側に配置する挟み込み配置も可能です。
それぞれのカメラの設置角度が異なっても問題ないので障害物を避けてカメラを配置したり、前方散乱を利用してより広いエリアの計測ができるなどのメリットがあります。
フレキシブルなカメラ配置

 

前方散乱による広範囲の計測

直径数ミクロンの微粒子からの散乱光はミー散乱と呼ばれ、散乱光強度は散乱方向によって大きく異なります。
光源前方は特に強く、ななめ後方にも輝度の高いところがあります。
前方散乱では90度側方散乱と比べてはるかに強い散乱光が得られます。
ステレオPIVでは前方散乱を受光できる位置に高解像度のカメラを配置することで、広いエリアの測定が可能です。
(ラージスケールPIV計測例参照)
後方散乱ではレーザー光源とカメラ2台を1本のレールに搭載すればトラバースが簡単に行えます。
前方散乱による広範囲の計測

 

散乱強度パターンの概念図

散乱強度パターンの概念図

矢印の長さは角度による散乱光強度をあらわします。実際の強度パターンは波長、粒子サイズにより異なります。


ステレオ3D-PIVシステムの詳細ページはこちらをご覧下さい。
https://www.seika-di.com/measure/piv_sys/item_2

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