【日本顕微鏡学会 第75回学術講演会】企業展示のお知らせ

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【日本顕微鏡学会 第75回学術講演会】企業展示のお知らせ


平素はご愛顧頂きまして誠にありがとうございます。電子顕微鏡用周辺機器営業担当の森と申します。
さて、この度弊社は、来る2019年6月17日(月)~19日(水)に名古屋国際会議場にて開催される「日本顕微鏡学会 第75回学術講演会」に出展致します。

弊社ブース(No.46)では、ドイツ国EMSIS社製サイド&ボトムマウントTEMカメラ、スイス国FemtoTools社製ナノインデンター、西華デジタルイメージ社製DICソフトウェアを展示し、バイオメディカル、マテリアル研究に従事する皆様へ耳よりな情報をご紹介致します。
ご多忙とは存じますが、ご来場の際には是非弊社ブース(ブース番号46)にお立ちより下さいます様、ご案内申し上げます。


EMSIS社は、長年にわたって顕微鏡用カメラ、ソフトウェアを製造しており、同社のTEM用デジタルカメラは、高感度、高分解能、広視野、高速度が特徴です。
全機種ディフラクション・動画・パノラマ撮影、リアルタイムFFTをはじめとした、各種オンライン機能に対応し、バイオメディカルからマテリアルまで、わかりやすい操作で高品質の像が取得可能です。



詳しくはこちらをご参照下さい。



FemtoTools社製ナノインデンターは、SEMで観察しながらの、オンタイム 圧縮、インデント(押込み)、引掻き、引張り、曲げ、加振試験が実施出来ます。
ピエゾスキャナーの正確なクローズドループポジショニングにて、変位・荷重が高精度制御で実施可能です。
使いやすい機器制御、データ取得ソフトウェア、加熱(~400℃)、電圧印加しながらの機械特性評価も対応しております。





詳しくはこちらをご参照下さい。



sDICは弊社独自に開発した製品で、DIC(デジタル画像相関法)による、ひずみ解析のソリューションを提供するソフトウェアです。
変形前後の画像を解析する事により、どの程度変形したかを解析します。
変形量だけでなく、変形した方向も検出可能です。
本ソフトウェアを使用することにより、非接触、非破壊で物体の歪みや変形を定量化する事が可能となります。





詳しくはこちらをご参照下さい。


◆名称:  日本顕微鏡学会 第75回学術講演会
      http://jsm75-2019.com/
◆期間:  2019年6月17日(月)~19日(水) 3日間
◆時間:  6月17日 9:00~17:30
      6月18日 9:00~17:30
      6月19日 9:00~16:00 
◆会場:  名古屋国際会議場
◆テーマ  顕微鏡学のパラダイムシフト
      -構造解析から機能解析へ-


皆様のご来場をお待ちしております。

マテリアルサイエンス計測チーム 一同

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