《日本顕微鏡学会 第74回学術講演会》企業展示のお知らせ

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《日本顕微鏡学会 第74回学術講演会》企業展示のお知らせ

 

 

平素はご愛顧頂きまして誠にありがとうございます。マテリアルサイエンス計測チーム営業担当の森と申します。

さて、この度弊社は、来る2018年5月29日(火)~31日(木)に久留米シティプラザにて開催される「日本顕微鏡学会 第74回学術講演会」に出展致します。

 

弊社ブース(No.46)では、ドイツ国EMSIS社製サイド&ボトムマウントTEMカメラ、スイス国Alemnis社製ナノインデンター並びにスイス国FemtoTools社製ナノインデンター、西華デジタルイメージ社製DICソフトウェアを展示し、バイオメディカル、マテリアル研究に従事する皆様へ耳よりな情報をご紹介致します。ご多忙とは存じますが、ご来場の際には是非弊社ブースにお立ちより下さいます様、ご案内申し上げます。

 

EMSIS社は、長年にわたって顕微鏡用カメラ、ソフトウェアを製造しており、

同社のTEM用デジタルカメラは、高感度、高分解能、広視野、高速度が特徴です。

全機種ディフラクション・動画・パノラマ撮影、リアルタイムFFTをはじめとした、各種オンライン機能に対応し、バイオ・メディカルからマテリアルまで、わかりやすい操作で高品質の像が取得可能です。

 

詳しくはこちらをご参照下さい。

 

ナノインデンターはAlemnis社並びにFemtoTools社を取り扱っており、SEMで観察しながらの、オンタイム 圧縮、インデント(押込み)、引掻き、引張り、曲げ、加振試験が実施出来、変位、荷重での高精度制御がピエゾステージの正確なクローズドループポジショニングにて実施可能です。

使いやすい機器制御、データ取得ソフトウェア、加熱(~600℃)、電圧印加しながらの応力負荷も対応しております。

 

詳しくはこちらをご参照下さい。

 

sDICは弊社独自に開発した製品で、DIC(デジタル画像相関法)による、ひずみ解析のソリューションを提供するソフトウェアです。変形前後の画像を解析する事により、どの程度変形したかを解析します。変形量だけでなく、変形した方向も検出可能です、本ソフトウェアを使用しる事により、非接触、非破壊で物体の歪みや変形を定量化する事が可能となります。

 

詳しくはこちらをご参照下さい。

 

◆名称:  日本顕微鏡学会 第74回学術講演会

      http://www.nksnet.co.jp/jsm2018/

◆期間:  2018年5月29日(水)~31日 (木) 3日間

◆時間:  5月29日 9:00~17:00

      5月30日 9:00~18:00

      5月31日 9:00~14:00 

◆会場:  久留米シティプラザ

◆テーマ: 顕微解析 イメージングのシンギュラリティ

 

尚、当日はご来場記念として粗品を用意しております。皆様のご来場をお待ちしております。

 

マテリアルサイエンス計測チーム 一同

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