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| カテゴリ | カタログ |
|---|---|
| 総合 | 受託計測 |
| 飛沫の可視化 | 飛沫・呼気・室内空気流れ 可視化 |
| 粒子計測機器 | 粒子・噴霧計測システム |
| 粒子画像解析・計測ソフトウエア:Dia.Image2020 | |
| シャドウグラフ(画像粒子計測法) | |
| FLD レーザー回折式粒度分布計 | |
| PDI 位相ドップラー式粒子分析計 | |
| 材料特性評価機器 | DIC 非接触歪み／変位解析システム |
 超高精度ナノインデンター FT-ⅼ04 |
|
| レーザードップラー式振動計 | |
| 電気化学測定装置(ポテンショスタット・ガルバノスタット) | |
| ブリネル圧痕自動読取装置 BRINｔronic-MD | |
| バッテリー充放電テスター GPT-Rシリーズ |
|
| 電子顕微鏡用周辺機器 | SEM用ナノインデンター |
| TEM用カメラ・ソフト総合 EMSIS | |
| TEM用ボトムカメラ Xarosa | |
| TEM用ボトムカメラ TOLARA | |
| TEM用サイドマウントカメラ M-View G3 | |
| TEM用サイドマウントカメラ VeletaG3 | |
| TEM用サイドマウントカメラ PHURONA | |
| TEM用画像解析・カメラ制御ソフトウエア RADIUS | |
| 燃焼流体計測機器 | PIV 粒子画像流速計測システム |
| PIV エントリーモデルシステム | |
| PIV 制御・解析ソフトウェア KoncertoⅡ | |
| マイクロPIV / LIFシステム (微小流動の流速分布、混合、拡散解析) | |
| 大粒径シーディング発生装置 CTS-1000S／CTS-4000Q |
|
| シーディングジェネレータ PivSolid 3 / PivSolid 10 | |
| シーディングジェネレータ PivPart14 / PivPart40 | |
| タイミングコントローラー LC880 | |
| LDV 1D/2D/3Dレーザードップラー流速計 | |
| LIF レーザー誘起蛍光法によるガス分子種計測システム | |
| レーザー式カンチレバー流速計 2D-LCA | |
| PSP 感圧塗料を用いた圧力計測システム | |
| デジタルシュリーレンシステム（DSS） |
|
| LII レーザー励起加熱法によるすす計測システム | |
| 薄膜、多孔質材料評価装置 | 薄膜、多孔質材料評価装置 |
| 貫通細孔径測定装置 POROLUX Revo、POROLIQ AQ/ML |